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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 逐次逼近

基于40 nm CMOS工藝的高速SAR ADC的設(shè)計(jì)

  • 基于40 nm CMOS工藝，設(shè)計(jì)了一種高速逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。本設(shè)計(jì)采用了非二進(jìn)制冗余DAC技術(shù)來緩解ADC對建立時(shí)間和建立精度的要求，來提高ADC量化的準(zhǔn)確性;采用帶有預(yù)放大級的高速比較器來提高比較器的精度，同時(shí)減小后級Latch的回踢噪聲，采用了兩級Latch來進(jìn)一步提高比較器的速度;采用基于鎖存器的鎖存單元來提高SAR邏輯控制電路的速度，并且采用了異步時(shí)序控制，不需要外部時(shí)鐘，有利于提高SAR ADC的速度，并降低了設(shè)計(jì)的復(fù)雜度。設(shè)計(jì)的SAR ADC在160 MHz的采樣頻率下，在不同輸入信號頻
  • 關(guān)鍵字： 高速通信  模數(shù)轉(zhuǎn)換器  逐次逼近  非二進(jìn)制  201803  

為逐次逼近型ADC 設(shè)計(jì)可靠的數(shù)字接口

  • 簡介逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(因其逐次逼近型寄存器而稱為SAR ADC)廣泛運(yùn)用于要求最高18 位分辨率和最高5 MSPS 速率的應(yīng)用中。其優(yōu)勢包括尺寸小、功耗低、無流水線延遲和易用。主機(jī)處理器可以通過多種串行和并行接口(
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逐次逼近型 ADC：確保首次轉(zhuǎn)換有效

  • 簡介最高 18 位分辨率、10 MSPS 采樣速率的逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)可以滿足許多數(shù)據(jù)采集應(yīng)用的需求，包括便攜式、工 業(yè)、醫(yī)療和通信應(yīng)用。本文介紹如何初始化逐次逼近型 ADC 以實(shí)現(xiàn)有效轉(zhuǎn)換。逐次逼近型架構(gòu)逐次
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ADC分類及特點(diǎn)介紹

  • 在儀器儀表系統(tǒng)中，常常需要將檢測到的連續(xù)變化的模擬量如：溫度、壓力、流量、速度、光強(qiáng)等轉(zhuǎn)變成離散的數(shù)字量，才能輸入到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行處理。這些模擬量經(jīng)過傳感器轉(zhuǎn)變成電信號(一般為電壓信號)，經(jīng)過放大器放大后
  • 關(guān)鍵字： ADC    逐次逼近    SAR    Σ-Δ    雙積分  

10位逐次逼近型A/D轉(zhuǎn)換器的芯片設(shè)計(jì)

  • 1 引言A/D轉(zhuǎn)換器是模擬系統(tǒng)與數(shù)字系統(tǒng)接口的關(guān)鍵部件，可以將需要測量的模擬信號精確地轉(zhuǎn)換成數(shù)字量信號。一旦以數(shù)字形式出現(xiàn)，就能簡單而準(zhǔn)確地對其進(jìn)行處理，從而提取出有用的信息?，F(xiàn)代電子系統(tǒng)中，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A
  • 關(guān)鍵字： 逐次逼近  芯片設(shè)計(jì)  轉(zhuǎn)換器    

基于PWM技術(shù)的A/D轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)

  • 1.引言對測控現(xiàn)場的被測模擬信號的處理一般常用A/D或V/F轉(zhuǎn)換技術(shù)，兩種方法各有特點(diǎn)：A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)一...
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逐次逼近介紹

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